在深圳半導體產(chǎn)業(yè)鏈中，測試環(huán)節(jié)長期面臨兩大核心痛點：一是傳統(tǒng)設(shè)備溫變速率慢，無法真實復現(xiàn)芯片在汽車電子“極寒啟動-高溫負載"工況下的瞬間熱應力；二是長期運行后的溫度漂移容易導致誤判。針對上述痛點，本次回購的設(shè)備主要集中于三箱式冷熱沖擊試驗箱。該設(shè)備通過獨特的氣流切換結(jié)構(gòu)，確保試件在測試中“靜止不動"，避免了傳統(tǒng)提籃式移動帶來的線纜磨損和瞬間負載變化。

      本次深圳客戶采購的勤卓冷熱沖擊試驗箱，精準匹配JEDEC JESD22-A104及AEC-Q100 Grade 0級測試標準，具體交易參數(shù)如下：

沖擊范圍與容積：高溫沖擊可達 +150℃，低溫深度下探至 -65℃（部分定制U系列機型），滿足車規(guī)芯片需求。內(nèi)箱工作室容積涵蓋 50L 至 150L，內(nèi)尺寸約600*500*500(W×D×H)，單次可承載 30Kg 標準測試板，兼顧研發(fā)實驗室與量產(chǎn)抽檢場景 。

極速溫變與恢復：采用氣動風門切換技術(shù)，高溫至低溫切換時間 ≤10秒（最快5秒內(nèi)完成）。在滿載30kg IC負載下，溫度恢復并穩(wěn)定時間 ≤5分鐘，這一指標可有效減少測試等待時間，大幅縮短芯片老化篩選的整體工時 。精度與均勻度：工作室溫度偏差控制在 ±2℃ 以內(nèi)，溫度波動度僅為 ±0.5℃。在測試大面積BGA基板或晶圓級芯片時，可確保無局部過熱或過冷盲區(qū)。

      從單一采購到批量回購，勤卓憑借“±0.5℃"的溫度精度和“5分鐘"的恢復速度，不僅為深圳半導體產(chǎn)業(yè)提供了符合JEDEC標準的測試硬件，更通過高可靠性的數(shù)據(jù)復現(xiàn)能力，幫助用戶精準篩除早期失效品，顯著提升封測良率。東莞市勤卓環(huán)境試驗設(shè)備有限公司于2010年成立以來，專注發(fā)展的還有高低溫試驗箱、恒溫恒濕試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、快速溫變試驗箱、步入式環(huán)境試驗室、振動臺等可靠性測試設(shè)備，秉承“一款產(chǎn)品，就是一個行業(yè)品牌"的發(fā)展理念，勤卓研發(fā)生產(chǎn)的環(huán)境試驗設(shè)備，一直以性能穩(wěn)定，參數(shù)精密，而獲得市場的廣泛認可，勤卓品牌試驗設(shè)備先后進駐中科院、清華大學、沈飛集團、中船重工、比亞迪、邁瑞醫(yī)療、比克電池等各大企事業(yè)單位，受到市場的廣泛好評和尊敬。